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WEK-1732曲面體層攝影測(cè)試模體,WEK-1732口腔曲面體層攝影測(cè)試體模符合《YY/T1732-2020》
更新時(shí)間:2026-03-18QRM-SCT光譜CT模體,QRM-SCT CT測(cè)試模體原為設(shè)計(jì)用于測(cè)試多能量光譜CT協(xié)議和后期處理技術(shù)。
更新時(shí)間:2026-03-17評(píng)估3D空間分辨率的一個(gè)很好的工具是可用德國(guó)QRM GmbH獲得的Micro-CT Bar Pattern NANO Phantom 。MicroCT測(cè)試模體
更新時(shí)間:2026-04-24
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